IT之家 1 月 8 日新闻，三星官方已实现对去年 10 月产生的一路 Galaxy Ring 智能戒指致用户就医事务的调查。据报路，三星认定该事务是由 Galaxy Ring 内部封装层开裂所致，并确认这款设备不存在普遍性电池安全风险。 据IT之家相识，这起事务源于科技博主丹尼尔（社交账号 @ZONEofTECH）颁布的一则离奇故障经历，丹尼尔暗示，事发时他正筹备登机，手指上佩带的 Galaxy Ring 忽然产生电池鼓包。鼓包不仅让他感应剧痛，还导致戒指无法取下。 丹尼尔最初在社交平台 X 上发文称，受该事务影响，他被回绝登机，随后不得不前往医院就诊。医护人员通过为其手指消肿，才援手他取下戒指。他其时辰享的一张特写照片显示，这款 Galaxy Ring 的内侧表壳已出现分离，引发了公家对其电池安全的忧郁。 自事务产生以来，三星便着手发展调查。凭据丹尼尔的最新动态，这次调查既蕴含三星内部的分析检测，也有独立第三方机构的专项审查，两项调查最终得出了一致结论。 客户安满是BB电子首要准则。在调查期间，三星始终与丹尼尔维持亲昵沟通。经三星内部检测及独立第三方机构进一步分析确认，丹尼尔所佩带的 Galaxy Ring 出现鼓包景象，系设备内部封装层开裂导致，且该问题不组成产品普遍性电池安全风险。Galaxy Ring 以耐用性为主题设计理想，专为日常佩带场景打造。 丹尼尔补充称，三星目前仍未能确定内部封装层开裂的底子原因。不外，三星方面仍坚称，Galaxy Ring 系列产品不存在大领域的电池安全隐患。